晶圓測(cè)試探針卡電路板
- 探針卡電路板搭配測(cè)試機(jī)（ATE）與Prober對(duì)晶片上的每個(gè)晶粒進(jìn)行針測(cè)，領(lǐng)智電路可以制作生產(chǎn)探針卡測(cè)試電路板 、半導(dǎo)體測(cè)試負(fù)載電路板、半導(dǎo)體老化測(cè)試電路板，提供快速樣品/批量加工。...
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產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品名稱：晶圓測(cè)試探針卡電路板
板材型號(hào)：TU-872
產(chǎn)品層數(shù)：24L電路板
成品板厚：5mm
成品銅厚：1oz
表面處理：鍍金
最小孔徑：0.1mm
最小線距：0.25mm
最小線寬：0.075mm
特殊工藝：阻抗，高多層，HDI
應(yīng)用領(lǐng)域：晶圓測(cè)試
晶圓測(cè)試（Chip Probing）是半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中必不可少的關(guān)鍵關(guān)節(jié)，探針卡（Probe Card）將數(shù)以萬(wàn)計(jì)的微米級(jí)探針集成到一塊PCB板上，搭配測(cè)試機(jī)（ATE）與Prober對(duì)晶片上的每個(gè)晶粒進(jìn)行針測(cè)，探針卡電路板通常作為L(zhǎng)oadboard的物理接口，在某些情況下ProbeCard通過(guò)插座或者其它接口電路附加到Loadboard上，從而判斷芯片的良好程度。領(lǐng)智電路是一家提供高精密高TG電路板生產(chǎn)加工廠家，可以制作生產(chǎn)探針卡測(cè)試電路板 、半導(dǎo)體測(cè)試負(fù)載電路板、半導(dǎo)體老化測(cè)試電路板，提供快速電路板樣品/批量加工制作。
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